Инновационные решения для проектирования и измерений от Keysight Technologies на Европейской микроволновой неделе

Компания Keysight Technologies продемонстрирует множество новейших решений на Европейской микроволновой неделе 2014, которая пройдет 7–9 октября в Риме в выставочном комплексе Fiera di Roma. Контрольно-измерительные устройства компании адресованы инженерам, проектирующим и тестирующим компоненты РЛС, антенны и беспроводные устройства следующего поколения.

Компания Keysight, уже одиннадцать лет выступающая спонсором Европейской микроволновой недели, проведет семинары и продемонстрирует контрольно-измерительные решения для аэрокосмической и оборонной промышленности, измерений параметров полупроводниковых приборов, моделирования с помощью САПР ADS компании Keysight, научных исследований и образования. Ниже перечислены основные темы планируемых демонстраций:

• Генерация и анализ широкополосных сигналов.
• Тестирование систем РЭБ с несколькими излучателями.
• Генерация сигналов в диапазоне от 0 до 40 ГГц для моделирования систем с несколькими излучателями.
• Многоканальная калибровка антенн.
• Измерение параметров материалов на частотах от десятков гигагерц до терагерц.
• Полное измерение параметров активных компонентов.
• Измерение фазового шума и коэффициента шума.
• Функция совместного ЭМ/схемотехнического моделирования.
• Проектирование модулей ВЧ-усилителей с помощью САПР ADS.
• Инновационные решения для научных исследований.
• Исследование систем связи 5-го поколения и миллиметрового диапазона.

Участники технического семинара «Поговори с экспертом» встретятся с ведущими специалистами компании Keysight и пообщаются на следующие темы:

• Новые приложения для аэрокосмической и оборонной промышленности, требующие применения специальных контрольно-измерительных решений.
• Последние достижения в области измерения параметров материалов и полупроводниковых приборов.
• Проектирования с помощью САПР Keysight.
• Будущее исследований в области радиосвязи: переход к более высоким частотам и широкополосным сигналам.
• Основы ВЧ- и СВЧ-измерений.