Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2013 10 июн

Семинар по тестированию полупроводниковых устройств

Компании Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на двухдневный семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазоне с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave».

Семинар пройдет в Москве 26 и 27 июня.

В нем примут участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Масаки Ямамото (Masaki Yamamoto) и технические специалисты высочайшего класса всех трех компаний.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Для этого предлагаются функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР Agilent Technologies, зондовые станции Cascade Microtech и импедансные тюнеры Maury Microwave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы Agilent B1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя Agilent EasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения осуществляются на полупроводниковых пластинах.

В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей Agilent B2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210 В и 3 А (10 А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила новое поколение источников/измерителей Agilent B2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т. д.

Для измерений в области СВЧ/мм диапазона, в частности измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X с частотным диапазоном до 67 ГГц.

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV-измерений и задач типа load pull, компания Maury Microwaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, ПО active load pull для Agilent PNA-X (без использования механических импедансных тюнеров). Разработано также специальное решение Maury Microwaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF-измерения.

Программа семинаров

26 июня 2013 г.

Измерения в СВЧ- и мм-диапазоне.

  • Моделирование вольт-амперных характеристик СВЧ-транзисторов в импульсном режиме.
  • Измерения характеристик устройств с переменным импедансом источника и нагрузки.
  • Теория и практика измерений Х-параметров.
  • Проектирование усилителя в САПР Advanced Design System на основе измеренных данных и модели.
  • Анализ устойчивости систем.
  • Измерение шумовых параметров.

27 июня 2013 г.

Измерения по постоянному току (до 10 кВ/1500 А)

  • Обзор решений Agilent Technologies для параметрического тестирования.
  • Расширение возможностей Agilent EasyExpert (версия 5.5), экспорт данных в формат .mdm.
  • Новые измерительные возможности B1500A.
  • Расширение измерительных возможностей B1505A до 10 кВ/1500 А (тестирование IGBT, SiC, GaN).
  • Новая серия источников/измерителей с ультранизкими фазовыми шумами Agilent B2960A.
  • Новые возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве.
  • Новые возможности IV-/CV-измерений на пластине с помощью зондовых станций.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться.

Подробную информацию можно получить на сайте или по телефону +7 (495) 797-39-28.