Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2009 №8

*Влияние марки припоя и способов пайки кристаллов на параметры силовых полупроводниковых приборов на примере транзистора КП767В

Зенин Виктор  
Хишко Ольга  

В статье рассмотрены способы отбраковочных испытаний полупроводниковых приборов. По литературным данным установлено, что одним из основных параметров оценки качества напайки кристалла к основанию корпуса силовых полупроводниковых приборов является тепловое сопротивление «кристалл–корпус». Проанализировано влияние марки припоя и способов пайки кристаллов на электрические параметры и тепловое сопротивление «кристалл–корпус» (RТ кр-к) транзисторов КП767В, собранных в корпусах КТ-28-2 и КТ-43В. Экспериментально установлено: способы напайки кристаллов к основаниям корпусов транзисторов КТ-28-2 и КТ-43В практически не влияют на электрические параметры транзисторов КП767В; RТ кр-к существенно зависит от способов пайки и типов корпусов.



Статьи данных номеров доступны в печатном и pdf-вариантах. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Компоненты и технологии» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.



Скачать статью в формате PDF  Скачать статью Компоненты и технологии PDF

 


Другие статьи по данной теме:

Сообщить об ошибке