Подписка на новости

Опрос

Нужны ли комментарии к статьям? Комментировали бы вы?

Реклама

 

2014 №4

Измерение сигналов DDR с помощью переходника от Agilent

Куан Ай-Ли (Ai-Lee Kuan)  
Фец Брайн (Brian Fetz)  

В статье описываются применение переходника пробников для тестирования микросхем BGA (в дальнейшем — «переходник») и связанные с этим проблемы, рассказывается о физической реализации переходника и его влиянии на тестируемую систему, а также об анализе сигналов с помощью ПО исключения элементов схемы. Касаясь методологии проектирования, авторы выделяют важные аспекты, которые надо учитывать для получения наилучших результатов измерений, выполняемых с помощью пробников BGA и обрабатываемых с помощью ПО исключения элементов.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Компоненты и технологии» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Другие статьи по данной теме:

Сообщить об ошибке